光研科技自主研發(fā)的光斑分析儀Beamfiler可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案，并支持多應用開發(fā)。產品精度可以完全代替進口激光光束質量分析儀。

通過光束分析裝置一體化設計，配套衰減方案設計，最小可測量直徑40μm光斑，支持實時曝光及增益調節(jié)。

該系統(tǒng)可以對連續(xù)可見激光光斑進行采樣，分析得到激光光斑中心，半徑，橢圓比等，并對光強能量場進行二維和三維顯示。可廣泛用于需要對激光光斑形狀進行檢測得場合，如激光生產，維護以及激光應用。也常用于光學器件質量檢查，激光腔鏡調整，外光路準直，光纖對準耦合分析等。

自光研科技推出自研產品Beamfiler光斑質量分析儀以來，已得到了國內多家企業(yè)和科研院所的測試和使用�？紤]到光斑質量分析儀需求量巨大且國外產品價格高昂，光研科技已正式開展光束質量分析儀定制化服務。目前已作為成熟產品在市場推廣，性價比很高，得到大量客戶認同。

光研科技給客戶做的每個測試都會根據的具體需求做出最合理的解決方案，并盡可能提供相應的公式或者依據。光研科技立志為更多的光學企業(yè)提供更優(yōu)質的光束質量分析系統(tǒng)！